РИСКИ ОТКАЗОВ СЛОЖНЫХ ТЕХНИЧЕСКИХ СИСТЕМ

Представлен механизм образования латентных дефектов печатных плат, предложена математическая модель развития латентного дефекта в явный на основе функции риска, что позволяет определить среднее время до появления очередного дефекта электронных средств сложных технических систем. Приведена модель функции риска в виде смещенного полинома Чебышева. Доказана справедливость применения методологии расчета надежности программного обеспечения к оценке надежности сложных технических систем длительного функционирования

• Юрков Н.К.

• Искусство. Декоративно-прикладное искусство. Фотография. Музыка. Игры. Спорт

• Социальные (общественные) науки
• Технические науки. Промышленность
• Физико-математические науки