Влияние условий подготовки поверхности диэлектриков на качество химически осажденной меди
Исследовано качество осадков меди, полученных из электролитов химического осаждения при различных схемах подготовки поверхности.
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
А.А. Пятачков, Т.В. Пятачкова, Т.В. Ершова, Т.Ф. Юдина
ВЛИЯНИЕ УСЛОВИЙ ПОДГОТОВКИ ПОВЕРХНОСТИ ДИЭЛЕКТРИКОВ
НА КАЧЕСТВО ХИМИЧЕСКИ ОСАЖДЕННОЙ МЕДИ
(Ивановский государственный химико-технологический университет)
e-mail: yudina@isuct.ru
Исследовано качество осадков меди, полученных из электролитов химического
осаждения при различных схемах подготовки поверхности. <...> Ключевые слова: химическое меднение, сенсибилизация, активирование
Как известно, по своей структуре и свойствам
медь, полученная химическим восстановлением,
отличается как от меди, осажденной электролитически,
так и от меди металлургической. <...> Так, например, удельное сопротивление для монолитной
меди составляет 1,7 ·10-8 Ом·м, а для
меди, осажденной химическим способом с использованием
классической схемы подготовки
поверхности – 3,8-26·10-8Ом·м. <...> Такое высокое
сопротивление химических покрытий является
ключевой проблемой при металлизации и обусловлено
оно недостаточной толщиной формирующихся
пленок и наличием в их составе оксидов
металлов. <...> Существенным недостатком покрытий,
осажденных химическим способом является
также их низкая пластичность, которую связывают
с дефектами поликристаллической структуры
(порами, искажениями кристаллической решетки
в кристаллитах, наличием текстуры). <...> В свою очередь, свойства химических покрытий
в значительной степени зависят как от
условий формирования в начальный период (от
условий сенсибилизации и активирования), так и
от состава электролита меднения [1, 2]. <...> Известно, что пластичные медные покрытия
имеют размеры кристаллитов больше 140 нм и
представляют собой гомогенное образование из
кристаллитов, не имеющее различий в электронной
плотности в диапазоне коллоидальных размеров
(пор или трехмерных дефектов кристаллической
решетки). <...> Наращивание толщины меди при подготовке поверхности:
1 – по классической схеме; 2 – по модифицированной
схеме
Fig. <...> The growing the copper thickness under different surface
treatment: 1 – conventional scheme; 2 – modified scheme <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: