О ПОЛНЫХ ТЕСТАХ ОТНОСИТЕЛЬНО ВЫТЕСНЯЮЩИХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ВХОДОВ СХЕМ

Рассматриваются неисправности входов схем. при которых выходное значение неисправной схемы определяется только исправными входами. Показано, что функция Шеннона длины проверяющего теста для данных неисправностей равна 2n—log2n+O(log2log2n), а функция Шеннона длины диагностического теста асимптотически равна 2n.

Авторы

Морозов Е.В.

Тэги

булева функция функция Шеннона тесты.

Тематические рубрики

Прикладные науки. Медицина. Технология

Предметные рубрики

Физико-математические науки

В этом же номере:

ЛАКУНАРНЫЕ ТАУБЕРОВЫ УСЛОВИЯ ДЛЯ НЕКОТОРОГО КЛАССА МЕТОДОВ ВОРОНОГО, АНАЛОГИЯ ЛИНЕЙНОЙ ЦЕПОЧКИ АТОМОВ В СЕЙСМОДИНАМИКЕ ПОДЗЕМНОГО ТРУБОПРОВОДА, ...

Резюме по документу**

Рассматриваются неисправности входов схем. при которых выходное значение неисправной схемы определяется только исправными входами. <...> Показано, что функция Шеннона длины проверяющего теста для данных неисправностей равна 2n—log2n+O(log2log2n), а функция Шеннона длины диагностического теста асимптотически равна 2n. <...> Рассматриваются неисправности входов схем. при которых выходное значение неисправной схемы определяется только исправными входами. <...> Показано, что функция Шеннона длины проверяющего теста для данных неисправностей равна 2n—log2n+O(log2log2n), а функция Шеннона длины диагностического теста асимптотически равна 2n. <...>

** - вычисляется автоматически, возможны погрешности

Похожие документы:

Похожие документы из РУАЭСТ
|
Похожие документы из Руконт

О ПОЛНЫХ ТЕСТАХ ОТНОСИТЕЛЬНО ВЫТЕСНЯЮЩИХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ВХОДОВ СХЕМ

Помощь:

Участники: