О ПОЛНЫХ ТЕСТАХ ОТНОСИТЕЛЬНО ВЫТЕСНЯЮЩИХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ВХОДОВ СХЕМ
Рассматриваются неисправности входов схем. при которых выходное значение неисправной схемы определяется только исправными входами. Показано, что функция Шеннона длины проверяющего теста для данных неисправностей равна 2n—log2n+O(log2log2n), а функция Шеннона длины диагностического теста асимптотически равна 2n.
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
Рассматриваются неисправности входов схем. при которых выходное значение неисправной схемы определяется только исправными входами. <...> Показано, что функция Шеннона длины проверяющего теста для данных неисправностей равна 2n—log2n+O(log2log2n), а функция Шеннона длины диагностического теста асимптотически равна 2n. <...> Рассматриваются неисправности входов схем. при которых выходное значение неисправной схемы определяется только исправными входами. <...> Показано, что функция Шеннона длины проверяющего теста для данных неисправностей равна 2n—log2n+O(log2log2n), а функция Шеннона длины диагностического теста асимптотически равна 2n. <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: