Методы исследования наноструктуры материалов оптотехники
Представлен аналитический обзор научных литературных источников в области исследования наноструктуры конструкционных, конструкционно-функциональных, функциональных и перспективных материалов деталей оптотехники геодезического и космического назначения. Кратко рассмотрены современные достижения в области материаловедения с помощью сканирующего туннельного зондового микроскопа, атомно-силового, сканирующего ближнепольного и других инструментов атомного разрешения. Основное внимание обращено на методы исследования структуры металлических, оптических и углеродных композиционных материалов, применяемых в оптотехнике.
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
Представлен аналитический обзор научных литературных источников в области исследования наноструктуры конструкционных, конструкционно-функциональных, функциональных и перспективных материалов деталей оптотехники геодезического и космического назначения. <...> Кратко рассмотрены современные достижения в области материаловедения с помощью сканирующего туннельного зондового микроскопа, атомно-силового, сканирующего ближнепольного и других инструментов атомного разрешения. <...> Основное внимание обращено на методы исследования структуры металлических, оптических и углеродных композиционных материалов, применяемых в оптотехнике. <...> Представлен аналитический обзор научных литературных источников в области исследования наноструктуры конструкционных, конструкционно-функциональных, функциональных и перспективных материалов деталей оптотехники геодезического и космического назначения. <...> Кратко рассмотрены современные достижения в области материаловедения с помощью сканирующего туннельного зондового микроскопа, атомно-силового, сканирующего ближнепольного и других инструментов атомного разрешения. <...> Основное внимание обращено на методы исследования структуры металлических, оптических и углеродных композиционных материалов, применяемых в оптотехнике. <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: