РУсскоязычный Архив Электронных СТатей периодических изданий
Автометрия/2015/№ 4/
В наличии за
300 руб.
Купить
Облако ключевых слов*
* - вычисляется автоматически
Недавно смотрели:

МОДЕЛИРОВАНИЕ СЕЧЕНИЯ НЕУПРУГОГО РАССЕЯНИЯ ЭЛЕКТРОНОВ В СЛОИСТЫХ СТРУКТУРАХ НА ОСНОВЕ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ФУНКЦИЙ И ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ СПЕКТРОВ ПЛЁНКИ И ПОДЛОЖКИ

Представлена методика моделирования сечения неупругого рассеяния электронов в слоистых структурах из экспериментальных спектров сечения неупругого рассеяния отражённых электронов компонентов структур на основе теоретической модели Юберо — Тоугаарда сечения неупругого рассеяния в однородной среде и её обобщения на случай слоистых структур. Методика апробирована на примере исследования спектров сечения неупругого рассеяния в двухслойной структуре SiO2/Si.

Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
Представлена методика моделирования сечения неупругого рассеяния электронов в слоистых структурах из экспериментальных спектров сечения неупругого рассеяния отражённых электронов компонентов структур на основе теоретической модели ЮбероТоугаарда сечения неупругого рассеяния в однородной среде и её обобщения на случай слоистых структур. <...> Методика апробирована на примере исследования спектров сечения неупругого рассеяния в двухслойной структуре SiO2/Si. <...> Представлена методика моделирования сечения неупругого рассеяния электронов в слоистых структурах из экспериментальных спектров сечения неупругого рассеяния отражённых электронов компонентов структур на основе теоретической модели ЮбероТоугаарда сечения неупругого рассеяния в однородной среде и её обобщения на случай слоистых структур. <...> Методика апробирована на примере исследования спектров сечения неупругого рассеяния в двухслойной структуре SiO2/Si. <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности

Похожие документы: