СТРУКТУРНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ НАНОМАТЕРИАЛОВ МЕТОДОМ РАДИАЛЬНОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОННОЙ ПЛОТНОСТИ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ НА СИНХРОТРОННОМ ИЗЛУЧЕНИИ
Показана эффективность применения методики просвечивающей дифрактометрии, реа-лизуемой с использованием синхротронного излучения накопителя ВЭПП-3, для полу-чения функций радиального распределения электронной плотности (РРЭП). На примере плохо окристаллизованного образца оксалата церия показаны возможности получаемых функций РРЭП в структурной диагностике рентгеноаморфных материалов: зафиксирована фаза оксалата, выявлены особенности локальной структуры и определен размер облас-ти атомарного упорядочения.
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
Egami T., Billinge S.J.L. Underneath the Bragg Peaks: Structural Analysis of Complex Materials. – UK, Oxford:
Pergamon Press, 2003.
4. <...> Показана эффективность применения методики просвечивающей дифрактометрии, реа-лизуемой с использованием синхротронного излучения накопителя ВЭПП-3, для полу-чения функций радиального распределения электронной плотности (РРЭП). <...> На примере плохо окристаллизованного образца оксалата церия показаны возможности получаемых функций РРЭП в структурной диагностике рентгеноаморфных материалов: зафиксирована фаза оксалата, выявлены особенности локальной структуры и определен размер облас-ти атомарного упорядочения.! <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: