Проблемы тестирования микропроцессорных реле защиты на устойчивость к преднамеренным электромагнитным деструктивным воздействиям

тестирование микропроцессорные реле

Краткая история электричества, или Почему «умные дома» питаются постоянным током, Разработка программного обеспечения встраиваемых микропроцессорных систем, проектируемых на базе расширяемых вычислительных платформ семейства Zynq-7000 AP SoC фирмы Xilinx., ...

Начало в 12 ’2014 Проблемы тестирования микропроцессорных реле защиты на устойчивость к преднамеренным электромагнитным деструктивным воздействиям Владимир ГУРЕВИЧ, <...> В данной статье оцениваются результаты проведенных двумя американскими компаниями исследований микропроцессорных реле защиты на устойчивость к преднамеренным деструктивным электромагнитным воздействиям, рассматриваются особенности устройств релейной защиты, уточняется и дополняется методика их тестирования. <...> Введение В предыдущей статье на эту тему [1] автором были подробно проанализированы нормативные документы, относящиеся к проблеме преднамеренных электромагнитных деструктивных воздействий (ПЭДВ) на микропроцессорные реле защиты (МУРЗ), обоснован выбор видов испытаний, сформулированы требования к параметрам испытательных воздействий, сделан обзор технических средств, обеспечивающих проведение этих экспериментов. <...> Анализ результатов выполненных ранее испытаний показал, что применяемые методы, критерии качества функционирования и параметры испытательных воздействий не всегда бывают выбраны корректно, в результате полученные данные не позволяют однозначно судить об устойчивости МУРЗ к ПЭДВ. <...> Использование критерия качества функционирования при испытаниях электронной аппаратуры на электромагнитную совместимость Реакция испытуемого объекта (ИО) на электромагнитные воздействия (ЭВ) может быть различной. <...> Допустимый для данного типа ИО и для данного типа испытаний вид реакции на электромагнитные воздействия называется критерием качества функционирования (ККФ) и является важнейшим показателем при испытаниях на электромагнитную совместимость (ЭМС), поскольку от его правильного выбора зависит вывод о том, прошло данное устройство конкретное испытание успешно или нет. <...> Как правило, все ограничивается фразой типа: «Выбор степеней жесткости, критериев качества функционирования осуществляют лица, разрабатывающие <...>

• Похожие документы из РУАЭСТ
• |
• Похожие документы из Руконт