Об эквивалентности физико-вероятностного и физикостатистического подходов к построению моделей надежности на примере деградации механических элементов МЭМС
Рассмотрены два подхода, используемые для обоснования моделей надежности: физико-вероятностный и физико-статистический, показана их эквивалентность.
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
УДК 681.321
Об эквивалентности физико-вероятностного и физикостатистического
подходов к построению моделей надежности
на примере деградации механических элементов МЭМС <...> С.П. Тимошенков, В.Н. Горошко, Б.М. Симонов, В.В. Калугин, А.С. Шалимов
Национальный исследовательский университет «МИЭТ»
About Equivalence of Physico-probabilitistic
and Physico-statistical Approaches to Building of Reliability Models
on an Example of MEMS Mechanical Elements Degradation
S.P. <...> Shalimov
National Research University of Electronic Technology, Moscow
Рассмотрены два подхода, используемые для обоснования моделей надежности:
физико-вероятностный и физико-статистический, показана их эквивалентность. <...> Two approaches used for justifying the reliability models – the physicalprobabilistic
and physical-statistical ones – have been considered. <...> Обобщенный процесс деградации изделий электронной техники, в том числе микроэлектромеханических
приборов и систем, в случае применения физико-вероятностного подхода аппроксимируется
непрерывным марковским процессом диффузионного типа, подчиняющимся
стохастическому дифференциальному уравнению первого порядка типа Ито [2]:
dx t A t dt B t d t( ) ,
( )
( )
( ) <...> (1)
где x( )t определяющий параметр (ОП) изделий электронной техники; t – время; ( )t случайная
составляющая гауссовского типа; A( )t детерминированная функция, характеризующая
изменение среднего значения ОП (скорости, или коэффициента сноса); B( )t детерминированная
функция, характеризующая изменение дисперсии ОП (коэффициента диффузии). <...> ЭЛЕКТРОНИКА Том 20 2 2015
203
Краткие сообщения
за (т.е. в течение времени от начала испытаний до достижения предельного уровня определяющих
параметров испытуемых изделий (1)) вид функций
Для определения вида функции распределения во времени до возникновения первого откаA(
)t и B( )t конкретизируется. <...> Процесс
деградации изделий электронной техники (совокупности однотипных изделий)
рассматривается как однородный, т.е. с постоянной средней скоростью процесса деградации и
постоянным средним квадратическим отклонением скорости или постоянным коэффициентом
вариации <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: