АНАЛИЗ ПРОЦЕССОВ В КОНЕЧНОМ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ РАДИАЦИИ. ОЦЕНКА ВЕРОЯТНОСТИ ИСКАЖЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ
Постановка проблемы: для решения вопросов функциональной организации цифровых устройств со структурной избыточностью, подверженных потоку информационных отказов, связанных с воздействием радиации, необходим анализ процессов, возникающих при действии частиц высокой энергии на интегральные схемы.
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
ИНФОРМАЦИОННО-УПРАВЛЯЮЩИЕ СИСТЕМЫ
УДК 681.3
doi:10.15217/issn1684-8853.2016.3.24
АНАЛИЗ ПРОЦЕССОВ В КОНЕЧНОМ АВТОМАТЕ
ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ РАДИАЦИИ. <...> В. Ф. Мелехина, доктор техн. наук, профессор
аСанкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, РФ
Постановка проблемы: для решения вопросов функциональной организации цифровых устройств со структурной
избыточностью, подверженных потоку информационных отказов, связанных с воздействием радиации, необходим анализ
процессов, возникающих при действии частиц высокой энергии на интегральные схемы. <...> Цель: установление функциональной
связи характеристик случайного потока событий, заключающихся в попадании частиц высокой энергии
в элементы интегральных схем, с характеристиками случайного потока отказов, заключающихся в искажении информации,
хранящейся в памяти автомата. <...> Результаты: получены описания процессов, связанных с воздействием радиации
на интегральные схемы, на трех уровнях представления: физических эффектов в полупроводниковых структурах транзисторов;
электрических процессов в электронных схемах на транзисторах, возникновения и распространения сигналов
в электронных схемах; искажения сигналов и информации в схемах устройств на уровне логических элементов. <...> Практическая значимость: полученные результаты позволяют
проводить анализ влияния радиации на информационные процессы в цифровых устройствах. <...> На основании результатов
данного анализа можно использовать эффективные способы введения структурной избыточности для повышения
надежности системы. <...> КМОП-технология, радиационные эффекты, «мягкие» отказы, вероятностные характеристики, поток частиц высокой
энергии, поток информационных отказов, физические процессы, электрические процессы, информационные
процессы. <...> Введение
В работе [1] рассмотрены общие концептуальные
представления о восстанавливаемых системах,
подверженных потоку «мягких» отказов
(возникновению <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: