Некоторые закономерности деградации синих светодиодов на основе InGaN/GaN
В данной работе приведены экспериментально установленные закономерности деградации синих СД на основе InGaN/GaN и обсуждается участие в процессе деградации системы протяженных дефектов, включающей высокую плотность дислокаций и мозаичную структуру, пронизывающую активную область СД.
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
Некоторые закономерности деградации
синих светодиодов на основе InGaN/GaN Е.Д. <...> А.Ф. Иоффе РАН,
ЗАО «Светлана-Оптоэлектроника»,
Институт проблем технологии и микроэлектроники РАН
Механизм деградации синих светодиодов
(СД) на основе гетероструктур
(ГС) типа InGaN/GaN с множественными квантовыми ямами
(МКЯ) и лазеров на этих материалах,
изучается с 1992 г., но не выяснен до сих пор, и не выработана единая общепринятая
модель деградационного
процесса [1, 2]. <...> Это обусловлено уникальными
структурными особенностями этих
материалов, таких как высокая плотность
дислокаций смешанного типа
(выше 107 см–2) и высокие локальные напряжения на границах сросшихся
доменов мозаичной структуры,
типичной для этих материалов <...> Зависимости внешней квантовой эффективности
синего светодиода (КЭ) отего
тока (I) и плотности тока (J) после 0 ч (1), 146 ч (2), 486 ч (3) и 1000 ч (4) работы СД, проходившей при температуре кристалла
80 С и токе 60 мА (J = I /(300ƀ400) мкм) 30 ставляется, что ключ к пониманию
указанного деградационного процесса
может лежать в структурных
особенностях указанного наноматериала,
в многообразии форм его существования,
обусловленных сложными
процессами коалесценции и
релаксации доменов мозаичной
структуры. <...> В данной работе приведены экспериментально
установленные закономерности
деградации синих СД на
основе InGaN/GaN и обсуждается участие в процессе деградации системы
протяженных дефектов, включающей
высокую плотность дислокаций
и мозаичную структуру, пронизывающую
активную область СД. <...> Эксперимент
Светоизлучающие структуры (СС)
на основе ГС типа InGaN/GaN с МКЯ на домининантную длину волны
460 нм были выращены на сапфировых
подложках (0001) методом эпитаксии из металлорганических
соединений на установке D-180
фирмы Veeco в ЗАО «Светлана-Оптоэлектроника». <...> Исследование вышеуказанной
деградации проводилось на
СД с внешней квантовой эффективностью
(КЭ) 8–20 % без линз (с линзами КЭ доходит до 30 % – среднего современного мирового уровня) при
токах <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: