РУсскоязычный Архив Электронных СТатей периодических изданий
Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Технические науки/2008/№ 2/
В наличии за
40 руб.
Купить
Облако ключевых слов*
* - вычисляется автоматически
Недавно смотрели:

Разделение совмещенных аналитических пиков в рентгеноспектральном флуоресцентном анализе с использованием их математической модели

Рассмотрена возможность разделения двух совмещенных аналитических пиков в спектрограмме рентгеноспектрального флуоресцентного анализа с использованием метода наименьших квадратов. Определены погрешности обработки аналитических сигналов на примере реальных спектрограмм.

Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
П. К. Ланге, М. А. Хлопцев РАЗДЕЛЕНИЕ СОВМЕЩЕННЫХ АНАЛИТИЧЕСКИХ ПИКОВ В РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОМ ФЛУОРЕСЦЕНТНОМ АНАЛИЗЕ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ИХ МАТЕМАТИЧЕСКОЙ МОДЕЛИ* Рассмотрена возможность разделения двух совмещенных аналитических пиков в спектрограмме рентгеноспектрального флуоресцентного анализа с использованием метода наименьших квадратов. <...> Определены погрешности обработки аналитических сигналов на примере реальных спектрограмм. <...> Среди широко используемых методов анализа в нефтехимии выделяется рентгеноспектральный флуоресцентный анализ (РСФА), который отличается от других при приемлемой чувствительности (до 10–4 % мас.) средней стоимостью аналитических приборов при широком диапазоне их различных модификаций, высокой экспрессностью анализа, простотой пробоподготовки. <...> Проблемой в РСФА является существенная зависимость от матрицы (основного элементного состава), которая не позволяет выполнить единую градуировку для широкого диапазона различных веществ, а также наложение соседних линий двух и более элементов [1]. <...> Каждый элемент (на каждом приборе) характеризуется определенной шириной пика, форма которого описывается определенной моделью. <...> Перечисленные факторы позволяют контролировать истинные интенсивности линий при их наложении в том случае, если известны математические модели пиков соответствующих спектральных линий. <...> В связи с этим была рассмотрена реальная задача анализа катализатора каталитического крекинга ЭМКАТ-100, в котором необходимо определять ванадий в присутствии значительного количества титана (измеряется линия VKα в присутствии TiKβ). <...> Соотношение интенсивностей совмещенных пиков колеблется в пределах 1:5 – 1:20 (в основном соотношение составляет 1:10). <...> Реальная спектрограмма, полученная при анализе катализатора с помощью анализатора Спектроскан – GV, изображена на рис. <...> Из рассмотрения спектрограммы видно, что имеет место наложение аналитических линий соседних <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности

Похожие документы: