С учетом ограничений использования метода динамического светового рассеяния для оценки состояния смеси нанообъектов, связанных с экранирующим влиянием крупных частиц, показана возможность изменения типовой настройки измерительной компьютерной программы DLS аппаратуры для повышения чувствительности к присутствию мелкодисперсной фракции.