Измерения электрофизических характеристик полупроводниковых структур с использованиемЛатышева Е.В.,Никитов С.А.,Пономарев Д.В.,Скрипаль А.В.,Усанов Д.А.
|
|
АНАЛИЗ ПРОЦЕССОВ В ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОМ ПАРАМЕТРИЧЕСКОМ КОНТУРЕ МЕТОДОМ РАЗЛОЖЕНИЯ В СТЕПЕННЫЕ РЯДЫЛатышева Е.В.,Нечаев Ю.Б.,Бирюк Н.Д.
|
|
ФУНКЦИИ ЛЯПУНОВА В ЗАДАЧЕ ОБ УСТОЙЧИВОСТИ ПАРАМЕТРИЧЕСКОГО КОНТУРАЛатышева Е.В.,Нечаев Ю.Б.,Бирюк Н.Д.
|