ИССЛЕДОВАНИЕ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО РАЗРЯДА СТРУКТУР Si–SiO2 МЕТОДОМ ЗОНДА КЕЛЬВИНАТутов Е.А.,Бутусов И.Ю.,Татохин Е.А.
|
|
ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ В ИССЛЕДОВАНИИ ОКСИДИРОВАНИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК МЕТАЛЛОВ НА КРЕМНИИТутов Е.А.,Бормонтов Е.Н.,Логачева В.А.,Рябцев С.В.,Тутов Е.Е.,Ховив А.М.
|
|
ЕМКОСТНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ГЛУБОКИХ УРОВНЕЙ ПРИ ОБМЕНЕ НОСИТЕЛЯМИ ЗАРЯДА МЕЖДУ УРОВНЯМИ И ОБЕИМИ РАЗРЕШЕННЫМИ ЗОНАМИТутов Е.А.,Васильева Л. В.,Бутусов И.Ю.,Буданов А.В.,Татохин Е.А.
|
|
ПРИМЕНЕНИЕ ФРАКТАЛЬНОГО ПОДХОДА К ОПИСАНИЮ МИКРОСТРУКТУРЫ ПОВЕРХНОСТИ АНОДНЫХ ОКСИДОВ ТАНТАЛАТутов Е.А.,Кукуев В.И.,Гриднев А.Е.,Мельникова М.С.,Попова И.А.
|