ПРИМЕНЕНИЕ ФРАКТАЛЬНОГО ПОДХОДА К ОПИСАНИЮ МИКРОСТРУКТУРЫ ПОВЕРХНОСТИ АНОДНЫХ ОКСИДОВ ТАНТАЛА

Методами растровой электронной микроскопии и мультифрактальной параметризации исследовано влияние деформации кручения танталовой подложки на микроструктуру поверхности анодных оксидных пленок. Получены канонические мультифрактальные спектры при различных величинах деформации подложки, показана эффективность применения мультифрактального описания микроструктуры поверхности

• Кукуев В.И.
• Гриднев А.Е.
• Тутов Е.А.
• Мельникова М.С.
• Попова И.А.

• Прикладные науки. Медицина. Технология

• Естественные науки
• Физико-математические науки