Анализ средствами TCAD токов утечки 45-нм МОП транзисторной структуры с high-k диэлектрикомХаритонов И.А.,Попов Д.А.,Петросянц К.О.,Самбурский Л.М.
|
|
Исследование влияния электронного облучения на импульсную электрическую прочность диодовХаритонов И.А.,Александрова А.Б.
|