Рассмотрены основные проблемы разработки программных средств моделирования характеристик интегральных микросхем (ИМС), предназначенных для функционирования в условиях воздействия ионизирующего излучения (ИИ) космического пространства. Представлены методы схемотехнического моделирования дозовых эффектов и эффектов от тяжелых заряженных частиц космического пространства, основанные на использовании языка описания аппаратуры Verilog-A