РАСЧЕТ СОСТАВА ЧИСТОЙ ПОВЕРХНОСТИ БИНАРНОГО СПЛАВА ПО ДАННЫМ РФЭС, ПОЛУЧЕННЫМ ПОСЛЕ КОНТАКТА ПОВЕРХНОСТИ СПЛАВА С ВОЗДУШНОЙ СРЕДОЙ

поверхность электронный спектрометр длина свободного пробега элементный состав сплав загрязнения поверхностный слой фотоэмиссия адсорбционная пленка.

СПЕКТРЫ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ И СТРОЕНИЕ СИСТЕМ (1 – x)RbNO3 + xAl2O3, МЕХАНИЗМ СОПРЯЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ ПЕРЕХОДОВ НА ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДОГО ТЕЛА, ...

Том 56, 3 УДК 538.971 РАСЧЕТ СОСТАВА ЧИСТОЙ ПОВЕРХНОСТИ БИНАРНОГО СПЛАВА ПО ДАННЫМ РФЭС, ПОЛУЧЕННЫМ ПОСЛЕ КОНТАКТА ПОВЕРХНОСТИ СПЛАВА С ВОЗДУШНОЙ СРЕДОЙ З.Х. <...> Х.М. Бербекова, Нальчик, Россия 2 E-mail: z-kalazh@yandex Ростовский государственный университет путей сообщения, Ростов-на-Дону, Россия Статья поступила 26 февраля 2014 г. С доработки — 30 сентября 2014 г. Предложена методика определения методом РФЭС поверхностных концентраций компонентов бинарного сплава, приготовленного в сверхвысоковакуумной камере и испытавшего контакт с воздухом. <...> Методика учитывает влияние адсорбционной пленки на поверхности образца, искажающей ток фотоэлектронов аналитических линий РФЭС. <...> Возможности методики продемонстрированы на примере исследования сплавов системы Sn—Pb. <...> DOI: 10.15372/JSC20150326 Ключевые слова: поверхность, электронный спектрометр, длина свободного пробега, элементный состав, сплав, загрязнения, поверхностный слой, фотоэмиссия, адсорбционная пленка. <...> ВВЕДЕНИЕ Для изучения различных свойств поверхности сплава, таких как поверхностное натяжение, работа выхода электрона, твердость, коррозионностойкость и др., могут быть созданы относительно недорогие сверхвысоковакуумные (СВВ) системы. <...> Для соотнесения измеренных характеристик поверхности с количественным содержанием компонентов сплава на поверхности необходимо, чтобы камера приготовления и исследования (КПИ) сплавов была снабжена прибором для электронно-спектроскопических методов определения элементного состава поверхности — РФЭ или оже-электронным (ОЭ) спектрометром. <...> Для определения элементного состава поверхности сплава приходится, как правило, извлекать образец из камеры КПИ и переносить его через воздушную среду в камеру спектрометра. <...> После этого на поверхности сплава в результате анализа обнаруживаются элементы, которых не было на ней в КПИ. <...> В связи с этим в настоящей работе поставлена задача установить связь между истинными концентрациями xi компонентов <...>

• Похожие документы из РУАЭСТ
• |
• Похожие документы из Руконт