Применение многопортового векторного анализатора цепей в формате PXI для быстрого и точного анализа электрических цепей

многопортовой векторной анализатор

Основы работы с осциллографами высокой четкости R&S RTO, Руководство для начинающих по измерениям с переменной нагрузкой, ...

130 технологии измерительная аппаратура Применение многопортового векторного анализатора цепей в формате PXI для быстрого и точного анализа электрических цепей Такуя ХИРАТО (Takuya HIRATO) Все чаще современные компоненты объединяют несколько различных функций, имея существенно большее число выводов и, соответственно, повышенную сложность. <...> А это, в свою очередь, делает весьма востребованными многопортовые измерения, которые позволяют гарантировать, что в реальных схемах компоненты будут вести себя так, как ожидается. многопортовый анализ цепей с растущим числом измеряемых параметров и стремлением минимизировать общее время тестирования в крупносерийном производстве. <...> К счастью, современные измерительные приборы, такие как многопортовый векторный анализатор цепей в формате PXI, предлагают удобные способы выполнения точных многопортовых измерений при одновременном повышении производительности. <...> С Основные метрологические проблемы Обычные средства многопортового анализа цепей основаны на применении анализатора с внешним матричным коммутатором. <...> В таком многопортовом решении сигналы 2-или 4-портового анализатора распределяются через ВЧ-ключи внешнего матричного коммутатора. <...> Необходимые измерительные егодня, решая задачи измерения, инженеры вынужденны искать компромисс между потребностью выполнять тракты определяются последовательно путем выбора портов через коммутатор. <...> И хотя решение на базе коммутаторов позволяет без особых затрат увеличить число портов векторного анализатора цепей, оно имеет и целый ряд недостатков. <...> Во-первых, для измерения всех S-параметров многопортового устройства в таком решении используются последовательные измерения. <...> На это может уйти много времени, поскольку для определения всех S-параметров приходится выполнять множество свипирований по частоте, что существенно замедляет скорость производственного тестирования. <...> Но еще более серьезная проблема заключается <...>

• Похожие документы из РУАЭСТ
• |
• Похожие документы из Руконт