РУсскоязычный Архив Электронных СТатей периодических изданий
Светотехника/2007/№ 5/
В наличии за
130 руб.
Купить
Облако ключевых слов*
* - вычисляется автоматически
Недавно смотрели:

Метод измерения диаметра цилиндрических направленно отражающих поверхностей

В статье излагается метод решения подобных задач, основывающийся на аналитической взаимосвязи координат точек кривой сечения исследуемой поверхности плоским пучком световых лучей (образа) и координат точек кривой - отображения этого сечения на плоскости.

Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
Е.М. СТАРОСТИН 1 Московский энергетический институт (технический университет), филиал в г. Смоленске При измерении диаметра цилиндрических поверхностей наиболее часто применяют теневые [1], проекционные <...> Внастоящей статье излагается метод решения подобных задач, основывающийся на аналитической взаимосвязи координат точек кривой сечения исследуемой поверхности плоским пучком световых лучей (образа) и координат точек кривойотображения этого сечения на плоскости. <...> Пусть из точки А на поверхность цилиндра радиуса R, ось которого совмещена с осью z декартовой системы координат, падает плоский пучок лучей (рис. <...> Плоскость, в которой лежат лучи, наклонена к оси z и, следовательно, к направляющим цилиндра под углом ĕ, длина луча AC равна l. <...> 2) и по виду напоминает конхоиду окружности, известную как улитка Паскаля. <...> Уравнение (2) позволяет выразить диаметр цилиндрической поверхности через координаты точки М на отображении исследуемого сечения в явном виде: DR aa 2 () () () xa ky a x a xa y CC E C CC 22 2 22 В общем случае диаметр поверхности можно вычислять по координатам одной точки на отображении кривой сечения, однако для повышения точности значение диаметра рекомендуется вычислять для относительно большого количества точек на этой кривой и усреднять. <...> Устройство, реализующее изложенный метод измерения, включает следующие компоненты: осветитель (состоит из полупроводникового лазера и анаморфотной телескопической оптической системы, формирующей плоский пучок световых лучей); экран, на который падают лучи, отраженные от исследуемой цилиндрической поверхности; эти лучи формируют отображение сечения исследуемой поверхности; видеокамера, осуществляющая анализ и первичную обработку информации о форме и параметрах кривой; компьютер, осуществляющий последующую обработку информации по заданному алгоритму, который включает цифровую обġ,мм 250 200 150 100 50 –150 –100 –50 0 –250 –200 –300 Рис. <...> 1. К выводу уравнения следа отраженного <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности

Похожие документы: