Методика обработки результатов измерений параметров операционного усилителя
Рассмотрена методика автоматизированной обработки результатов измерений параметров операционного усилителя, включая расчет его макромодели.
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
Создание паспорта исследуемого экземпляра ОУ в виде выходного
компьютерного файла в текстовом формате и в распечатанном на бумаге виде. <...> Расчет макромодели исследуемого экземпляра ОУ и создание ее текстового
описания в виде выходного компьютерного файла в формате, принятом
в Spice-совместимых программах схемотехнического моделирования
(PSpice, OrCAD, Multisim и др.) <...> По завершении измерительного эксперимента управляющей программой
вводятся измеренные значения параметров ОУ:
– максимальные выходные напряжения положительной Voutp и отрицательной
Voutm полярности;
– максимальные скорости нарастания SRp и спада SRm выходного
напряжения; при создании макромодели Бойла со стандартной топологией
различие скоростей нарастания и спада достоверно не воспроизводится, по129
Известия высших учебных заведений. <...> Поволжский регион
этому выбирается меньшее значение и принимается SRp SRm
для ОУ с входным каскадом на биполярных транзисторах;
– коэффициент усиления постоянного напряжения Avdc;
– частота единичного усиления 0dBf
;
– коэффициент ослабления синфазного сигнала CMRR;
– запас устойчивости по фазе на частоте единичного усиления Phi;
– выходное сопротивление на низких Rodc и высоких Roac частотах. <...> Зарубежными фирмамипроизводителями
ОУ распространяются макромодели, достаточно достоверно
воспроизводящие усредненные характеристики ОУ определенного типа. <...> Применение разработанного авторами аппаратно-программного комплекса
позволяет оперативно создавать макромодели конкретных экземпляров ОУ по
измеренным значениям их параметров, что обеспечивает:
– улучшение сходимости результатов моделирования схем на ОУ и экспериментальных
данных, что, в свою очередь, позволяет вместо макетирования
схем проводить их моделирование, значительно расширив программу исследования,
в том числе в критических режимах работы схем с угрозой выхода
микросхем из строя;
– моделирование схем на ОУ в заданном диапазоне температур с предварительным <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: