ОЦЕНКА РАЗМЕРОВ НАНОЧАСТИЦ ГРАФИТА – СТРУКТУРНЫХ БЛОКОВ АКТИВИРОВАННЫХ УГЛЕРОДНЫХ ВОЛОКОН, ПУТЕМ МОДЕЛИРОВАНИЯ ПРОФИЛЯ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКЦИИ

Размеры нанографитов – структурных блоков активированных углеродных волокон (АУВ) оценены без использования формулы Шеррера, путем компьютерного моделирования экспериментального профиля рентгеновской дифракции с помощью кривых рентгеновского рассеяния модельных нанографитов. Расчет кривых рентгеновского рассеяния модельных нанографитов был выполнен в терминах теории Уоррена-Боденштейна с учетом зависимости межатомных расстояний в нанографене от его размера. Приведены также данные исследований мотивов строения АУВ методами малоуглового рентгеновского и комбинационного рассеяний.

• Зиатдинов А.М.
• Саенко Н.С.

• Прикладные науки. Медицина. Технология

• Социальные (общественные) науки
• Естественные науки