На основе законов теплообмена между полупроводником и окружающей средой получено выражение для оценки уровней стойкости радиоэлектронных средств, учитывающее время повторения и число импульсов электромагнитного поля. Оценена зависимость критического уровня плотности мощности, при котором происходит сбой работы компьютера, от параметров импульсной последовательности. Показано соответствие полученной закономерности экспериментальным результатам. Проведён расчёт зависимостей уровня стойкости от числа импульсов для заданных длительности и времени повторения импульсов электромагнитного поля. Дана характеристика процесса установления уровня стойкости