Исследования деградации резонансно-туннельных диодов на базе AlAs/GaAs наногетероструктур
Для радиотехнических устройств на основе наноразмерных многослойных полупроводниковых гетероструктур актуальна проблема обеспечения надежности вследствие чувствительности параметров гетероструктуры к процессам деградации ввиду малости толщин слоев. В данной работе проведены исследования термической деградации AlAs/GaAs наногетероструктуры и партии резонанснотуннельных диодов с использованием методов ИК-спектральной эллипсометрии и ускоренного старения полупроводниковых устройств. В результате определены активационные параметры диффузии (энергия активации и предэкспоненциальный множитель) Al и Si в резонансно-туннельной структуре и приконтактных областях и зависимость контактного сопротивления AuGeNi омических контактов от времени и температуры. Полученные в настоящей работе числовые характеристики основных деградационных процессов могут быть использованы для прогнозирования надежности резонансно-туннельных диодов и нелинейных преобразователей радиосигналов на их основе.
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
Н.Э. Баумана, Москва, 105005, Россия
Для радиотехнических устройств на основе наноразмерных многослойных полупроводниковых
гетероструктур актуальна проблема обеспечения надежности вследствие
чувствительности параметров гетероструктуры к процессам деградации
ввиду малости толщин слоев. <...> В данной работе проведены исследования термической
деградации AlAs/GaAs наногетероструктуры и партии резонансно-туннельных
диодов с использованием методов ИК-спектральной эллипсометрии и ускоренного
старения полупроводниковых устройств. <...> В результате определены активационные
параметры диффузии (энергия активации и предэкспоненциальный множитель)
Al и Si в резонансно-туннельной структуре и приконтактных областях и зависимость
контактного сопротивления AuGeNi омических контактов от времени
и температуры. <...> Полученные в настоящей работе числовые характеристики основных
деградационных процессов могут быть использованы для прогнозирования
надежности резонансно-туннельных диодов и нелинейных преобразователей радиосигналов
на их основе. <...> Ключевые слова: AlAs/GaAs гетероструктура, приконтактные области, AuGeNi
омические контакты, резонансно-туннельный диод, нелинейные преобразователи
радиосигналов, деградационные явления, термическое воздействие, коэффициент
диффузии, контактное сопротивление, ИК-спектральная эллипсометрия. <...> К таким
приборам относятся резонансно-туннельные диоды (РТД) на базе многослойных
полупроводниковых AlAs/GaAs гетероструктур с поперечным
токопереносом [1 — 3]. <...> Такое свойство РТД позволяет создавать на его базе различные
нелинейные преобразователи радиосигналов: смесители, выпрямители,
умножители и генераторы, функциональные характеристики которых
1 <...> М.О. Макеев, Ю.А. Иванов, С.А. Мешков, Ю.Н. Литвак, Н.А. Ветрова
могут быть оптимизированы за счет выбора наилучшей для конкретных
условий применения формы ВАХ нелинейного элемента [4, 5]. <...> Если
исследованиям свойств самих РТД [6–9] и проблемам их <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: