Методы измерения вольт-амперных характеристик фотодиодов в многорядном ИК-фотоприемнике
Исследованы методы измерения вольт-амперных характеристик (ВАХ) фотодиодов в многорядном фотоприемнике формата 6576 на основе КРТ длинноволнового диапазона спектра. ВАХ строится по результатам измерений выходных сигналов большой интегральной схемы (БИС) считывания, гибридизированной с линейкой ИК-фотодиодов. Проведено сравнение метода независимого измерения тока в каждой точке ВАХ и метода аддитивного измерения тока. Предложен метод определения оптимальных рабочих точек фотодиодов путем построения и анализа зависимости дифференциального сопротивления фотодиода от напряжения смещения. Рассмотрены распределения токов фотодиодов для образца МФПУ формата 6576 на основе КРТ-фотодиодов с подложкой p-типа проводимости с граничной длиной волны λ0,5 = 10,5 мкм.
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
Прикладная физика, 2016, 2
ФОТОЭЛЕКТРОНИКА
УДК 621.383.4
Методы измерения вольт-амперных характеристик фотодиодов
в многорядном ИК-фотоприемнике <...> Д. Л. Балиев, К. О. Болтарь
Исследованы методы измерения вольт-амперных характеристик (ВАХ) фотодиодов в многорядном
фотоприемнике формата 6
576 на основе КРТ длинноволнового диапазона спектра. <...> ВАХ строится по результатам измерений выходных сигналов большой интегральной схемы
(БИС) считывания, гибридизированной с линейкой ИК-фотодиодов. <...> Проведено сравнение метода
независимого измерения тока в каждой точке ВАХ и метода аддитивного измерения
тока. <...> Предложен метод определения оптимальных рабочих точек фотодиодов путем построения
и анализа зависимости дифференциального сопротивления фотодиода от напряжения
смещения. <...> Рассмотрены распределения токов фотодиодов для образца МФПУ формата
6
576 на основе КРТ-фотодиодов с подложкой p-типа проводимости с граничной длиной
волны λ0,5 = 10,5 мкм. <...> Введение
Результаты измерения вольт-амперных характеристик
(ВАХ) ИК-фотодиодов позволяют
получить основную информацию об их качестве <...> Большой интерес
представляет распределение ВАХ в многорядных
и матричных структурах при рабочих температурах,
что даст информацию об однородности получаемых
структур, позволит глубже понять природу
дефектных фотодиодов и вычислить соотношение
токов различной природы [2—9]. <...> Эта информация
может быть использована для улучшения процессов
создания структур ИК-фотодиодов. <...> Статья поступила в редакцию 24 февраля 2016 г.
Балиев Д. Л., Болтарь К. О., 2016
Болтарь Константин Олегович, начальник НТК1, профессор2. <...> 71
Цель данной работы состоит в исследовании
методов измерения ВАХ фотодиодов многорядных
ИК-фотоприемников по результатам измерений
выходных сигналов большой интегральной
схемы (БИС) считывания, гибридизированной с
линейкой ИК-фотодиодов, получение распределения
ВАХ в образце МФПУ формата 6576 на основе
твердых растворов КРТ, разброса токов <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: