Исследование коэффициента пропускания оптических фильтров на основе многослойных диэлектрических покрытий и фотонных кристаллов

оптические фильтры коэффициенты пропускания диэлектрические покрытия многослойные диэлектрические покрытия фотонные кристаллы светофильтры наносферы двуокись кремния электродинамические вероятностные модели вероятностные модели

Основные характеристики электромагнитной системы двухкоординатного датчика, Генераторы равновероятностных псевдослучайных последовательностей на регистрах сдвига, ...

О. А. Голованов, В. Я. Савицкий, А. Д. Пимкин ИССЛЕДОВАНИЕ КОЭФФИЦИЕНТА ПРОПУСКАНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ФИЛЬТРОВ НА ОСНОВЕ МНОГОСЛОЙНЫХ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ И ФОТОННЫХ КРИСТАЛЛОВ Аннотация. <...> Предложены трехмерные электродинамические вероятностные модели оптических фильтров на основе многослойных диэлектрических покрытий и на основе фотонных кристаллов. <...> Проведено сравнение результатов расчета спектральной зависимости коэффициента пропускания двенадцатислойного отрезающего светофильтра α -Si/SiO2 с экспериментальными данными. <...> Исследовано влияние дефектов структуры упаковок наносфер на характеристики оптического фильтра. <...> Установлены предельные значения погрешностей изготовления наноэлементов: высот неровностей слоев диэлектрических покрытий и диаметров наносфер двуокиси кремния. <...> В настоящее время математическое моделирование многослойных диэлектрических покрытий проводится на основе метода лучевой теории. <...> Анализ отечественной и зарубежной научной литературы показывает, что к перспективным структурам класса 3D-фотонных кристаллов относятся опаловые матрицы из кубических упаковок наносфер двуокиси 160 1 (21), 2012 Технические науки. <...> Опаловые матрицы характеризуются возможностью изменения диаметров наносфер в широком диапазоне, возможностью получения массивных образцов и сравнительно простой технологией изготовления. <...> Существующие коммерческие пакеты моделирования Comsol Multiphysics (используется метод конечных элементов для решения уравнений Максвелла), RSOFT Fullwave (использует метод конечных разностей) позволяют проводить расчет зон пропускания и непропускания фотонного кристалла, но не пригодны для расчета коэффициентов отражения и пропускания оптических фильтров. <...> Цель данных исследований состояла в разработке декомпозионного подхода к математическому моделированию оптических фильтров на электродинамическом уровне строгости, учитывающему рассеяния электромагнитных волн на неоднородностях <...>

• Похожие документы из РУАЭСТ
• |
• Похожие документы из Руконт