О функциях и схемах, применяемых для повышения надежности схем

булевы функции функция голосования надежность схем базисы теоремы инверсные неисправности

Фотовозбуждение примесных молекулярных ионов D{-}[2] в структурах с квантовыми точками при наличии внешних электрического и магнитного полей, Моделирование нестационарного ВКР-усиления в газах, ...

М. А. Алехина, С. И. Аксенов, А. В. Васин О ФУНКЦИЯХ И СХЕМАХ, ПРИМЕНЯЕМЫХ ДЛЯ ПОВЫШЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ СХЕМ Найден широкий класс булевых функций, способных повышать надежность схем. <...> Доказано, что при инверсных неисправностях на выходах элементов наличие функции из предлагаемого класса в заданном базисе гарантирует реализацию произвольной булевой функции асимптотически оптимальной по надежности схемой. <...> Впервые задачу синтеза надежных схем из ненадежных элементов рассматривал Дж. фон Нейман [1]. <...> Он предполагал, что все элементы схемы независимо друг от друга подвержены с вероятностью (0 1/ 2 ) инверсным неисправностям на выходах, когда функциональный элемент с приписанной ему функцией ()x в неисправном состоянии реализует функцию ()x . произвольную булеву функцию реализовать схемой, ненадежx x x xx xx x x g(, , ) . Дж. фон Нейман предложил итерационный метод, позволяющий при 01/ 6 ность которой асимптотически не больше при условии, что в рассматриваемом базисе содержится функция голосования 12 3 1 2 1 3 2 3 Метод дает экспоненциальное увеличение сложности схемы (примерно в 3k раз, где k – используемое число итераций). <...> Схема из ненадежных элементов имеет две важные характеристики: вероятность ошибки на выходе схемы (ненадежность) и сложность схемы. <...> Оптимизации сложности схем уделялось главное внимание в работах <...> Задача построения асимптотически оптимальных по надежности схем из ненадежных элементов решалась М. А. Алехиной [4]. <...> Рассматривается реализация булевых функций схемами из ненадежных элементов над конечным полным базисом B { 1, ..., }mee <...> Схема из ненадежных функциональных элементов реализует булеву функцию вход схемы двоичного набора aa( 1, ..., )na выходе схемы появляется значение ()f a . <...> Предполагается, что все элементы схемы независимо друг от друга с вероятностью (01/ 2 Пусть PS a fa ) подвержены инверсным неисправностям на выходах <...>

• Похожие документы из РУАЭСТ
• |
• Похожие документы из Руконт