Анализ физики отказов для оценки показателей надежности радиоэлектронных приборов современных радиолокационных систем
Рассмотрены проблемы повышения эффективности и надежности радиоэлектронного оборудования. Проведен анализ и синтез существующих отечественных и зарубежных методических подходов при испытании радиоэлектронной аппаратуры (РЭА), физики отказов с точки зрения оценки показателей надежности. Обоснованы целесообразность и направления совершенствования и внедрения РЭА в разрабатываемый в настоящее время комплекс государственных стандартов для проектирования радиолокационных систем. Показано место и роль физико-математических наук в теории надежности и случайных процессов. Исследованы вопросы наработки до отказа и интенсивности отказов. Выявлены области безопасной работы и механизмы деградационных отказов. Проведен анализ эффективных методов стабилизации поверхностного заряда в радиоэлектронных структурах, моделей усталостного разрушения контактных соединений в полупроводниковых приборах, а также анализ исследований микроскопических контактов алюминиевого проводника в интегральных схемах. Изучен механизм отказа алюминиевых межсоединений и токопроводящих элементов в зависимости от конструктивных особенностей и технологических режимов, а также отказ мощных транзисторов при рассогласовании нагрузки. В целях выявления дефектных приборов РЭА рассмотрено влияние ионизирующих излучений на деградацию электрических параметров интегральных схем и воздействие радиации. Изучены отказы кремниевых планарных транзисторов с помощью гамма-обработки, механизм старения керметных резисторов, отказы непроволочных переменных резисторов. Предложены методы физического прогнозирования отказов конденсаторов. Исследованы причины отказов высоковольтных керамических малогабаритных конденсаторов и высоковольтных высокочастотных керамических конденсаторов, а также влияние термоупругих напряжений как причины механической деструкции. Проведен анализ механизмов нарушения электрической прочности керамических конденсаторов высокого напряжения.
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
УДК 519.95
Анализ физики отказов для оценки показателей
надежности радиоэлектронных приборов современных
радиолокационных систем
2 ОАО «Радиотехнический институт имени академика А.Л. Минца», Москва,
127083, Россия
Н. <...> Проведен анализ и синтез существующих отечественных и зарубежных
методических подходов при испытании радиоэлектронной аппаратуры
(РЭА), физики отказов с точки зрения оценки показателей надежности. <...> Выявлены области безопасной работы и механизмы
деградационных отказов. <...> Проведен анализ эффективных методов стабилизации
поверхностного заряда в радиоэлектронных структурах, моделей усталостного
разрушения контактных соединений в полупроводниковых приборах, а также
анализ исследований микроскопических контактов алюминиевого проводника в интегральных
схемах. <...> Изучен механизм отказа алюминиевых межсоединений и токопроводящих
элементов в зависимости от конструктивных особенностей и технологических
режимов, а также отказ мощных транзисторов при рассогласовании
нагрузки. <...> Изучены отказы кремниевых планарных транзисторов с помощью
гамма-обработки, механизм старения керметных резисторов, отказы непроволочных
переменных резисторов. <...> Исследованы причины отказов высоковольтных
керамических малогабаритных конденсаторов и высоковольтных высокочастотных
керамических конденсаторов, а также влияние термоупругих напряжений как причины
механической деструкции. <...> Проведен анализ механизмов нарушения электрической
прочности керамических конденсаторов высокого напряжения. <...> Н.И. Сидняев, В.П. Савченко, Д.В. Клочкова
Оценка надежности устройств, основанная на данных о физических
свойствах материалов, о характеристиках элементов и воздействующих
факторов, не только не исключает, но и предполагает использование
вероятностных, статистических методов, поскольку эти
характеристики представляют собой обычно случайные функции
времени или случайные величины. <...> Анализ физики отказов <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: