Определение параметров поверхностного слоя чистых жидкостей по данным эллипсометрии

граница раздела жидкость–пар эллипсометрия главный угол падения.

Распространение электромагнитных волн в средах со структурными дефектами, Нейросетевой метод синтеза информативных признаков для классификации источников сигналов в системах когнитивного радио, ...

2 Определение параметров поверхностного слоя чистых жидкостей по данным эллипсометрии <...> E-mail: a ilinasg@mail.ru, b 1alekseeva99liza1@gmail.com Статья поступила 11.02.2015, подписана в печать 13.08.2015. щины интерфейса жидкость–пар из измерений коэффициента эллиптичности ρ при нескольких длинах волн зондирующего света по данным работы [1] для нескольких чистых жидкостей. <...> Вычислено изменение значения главного угла падения при возникновении структуры «слой на подложке». <...> Приведен метод вычисления параметров межфазного слоя — показателя преломления и толКлючевые слова: граница раздела жидкость–пар, эллипсометрия, главный угол падения. <...> Введение В настоящей работе проведены вычисления параметров поверхностного слоя: показателя преломления (ПП) и толщины межфазного слоя на границе раздела жидкость–пар в чистых жидкостях с помощью измеренного в [1] коэффициента эллиптичности отраженного света. <...> В основу метода положено изменение главного угла падения отраженного света от системы «слой на подложке» по сравнению со значением главного угла падения для света, отраженного от подложки (n2 — показатель преломления слоя, n3 — показатель преломления подложки). <...> ) Указанные идеи были использованы в работе [2] для вычисления параметров критической адсорбции по данным измерений главного угла падения [3]. <...> Как известно, при отражении света от однородного образца, имеющего показатель преломления n3 , угол Брюстера ϕB = arctg(n3) является главным углом падения, т. е. разность фаз =δpδs между p- и s-компонентами поляризации отраженного света равна =π/2. <...> Если образец представляет собой «слой на подложке», то главный угол ϕmain вычисляется (или измеряется) специально. <...> Разработанный в [2] метод вычисления параметров слоя заключается в использовании новой экспериментально измеряемой независимой величины dϕ=(arctg(n3)ϕmain) — отклонения значения главного угла падения ϕmain от угла Брюстера подложки. <...> Наши предварительные исследования решений прямой задачи <...>

• Похожие документы из РУАЭСТ
• |
• Похожие документы из Руконт