Влияние состояния поверхности затравочного слоя меди на однородность электрохимического заполнения медью канавок с субмикронными размерами
Приведены результаты исследования влияния состояния поверхности затравочного слоя меди на однородность электрохимического заполнения медью канавок с субмикронными размерами. Отмечено, что качество заполнения связано с отсутствием или наличием на поверхности затравочного слоя меди пленки оксида, характеризующейся гидрофобными свойствами. Показано, что для однородного заполнения канавок медью в переходных окнах в межуровневых слоях диэлектриков при создании медной многоуровневой металлизации кремниевых ИС время межоперационного хранения пластин после осаждения затравочного слоя меди до заполнения канавок медью не должно превышать максимально допустимого (~6 ч).
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
КРАТКИЕ СООБЩЕНИЯ
BRIEF REPORTS
УДК 621.382 (075.8)
Влияние состояния поверхности затравочного слоя меди
на однородность электрохимического заполнения медью канавок
с субмикронными размерами <...> Shevyakov
National Research University of Electronic Technology, Moscow
Приведены результаты исследования влияния состояния поверхности затравочного
слоя меди на однородность электрохимического заполнения медью канавок
с субмикронными размерами. <...> Отмечено, что качество заполнения связано с
отсутствием или наличием на поверхности затравочного слоя меди пленки оксида,
характеризующейся гидрофобными свойствами. <...> Показано, что для однородного
заполнения канавок медью в переходных окнах в межуровневых слоях диэлектриков
при создании медной многоуровневой металлизации кремниевых ИС
время межоперационного хранения пластин после осаждения затравочного слоя
меди до заполнения канавок медью не должно превышать максимально допустимого
(6 ч). <...> Ключевые слова: медная металлизация; угол смачивания; затравочный слой меди;
электрохимическое осаждение. <...> С уменьшением размеров быстродействие логических элементов возрастает, а быстродействие
межсоединений системы металлизации снижается из-за уменьшения поперечного сечения
проводников межсоединений и соответствующего увеличения погонного сопротивления. <...> С уменьшением поперечного сечения проводников межсоединений возникают
и другие проблемы: снижается электромиграционная стойкость проводников, значительно усложняются
технологические приемы травления при создании рисунка проводников с воспроизводимыми
размерами и др. <...> .
В большинстве современных ИС для эффективной разводки требуется большое количество
слоев межсоединений, что приводит к образованию многоуровневой системы металлизации
[1–3]. <...> Необходимость в улучшении системы межсоединений обусловлена увеличением быстродействия
устройств. <...> Потребность в снижении сопротивления проводниковых межсоединений и повышении
их электромиграционной <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: