РУсскоязычный Архив Электронных СТатей периодических изданий
Известия высших учебных заведений. Электроника/2016/№ 1/
В наличии за
140 руб.
Купить
Облако ключевых слов*
* - вычисляется автоматически
Недавно смотрели:

Влияние состояния поверхности затравочного слоя меди на однородность электрохимического заполнения медью канавок с субмикронными размерами

Приведены результаты исследования влияния состояния поверхности затравочного слоя меди на однородность электрохимического заполнения медью канавок с субмикронными размерами. Отмечено, что качество заполнения связано с отсутствием или наличием на поверхности затравочного слоя меди пленки оксида, характеризующейся гидрофобными свойствами. Показано, что для однородного заполнения канавок медью в переходных окнах в межуровневых слоях диэлектриков при создании медной многоуровневой металлизации кремниевых ИС время межоперационного хранения пластин после осаждения затравочного слоя меди до заполнения канавок медью не должно превышать максимально допустимого (~6 ч).

Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
КРАТКИЕ СООБЩЕНИЯ BRIEF REPORTS УДК 621.382 (075.8) Влияние состояния поверхности затравочного слоя меди на однородность электрохимического заполнения медью канавок с субмикронными размерами <...> Shevyakov National Research University of Electronic Technology, Moscow Приведены результаты исследования влияния состояния поверхности затравочного слоя меди на однородность электрохимического заполнения медью канавок с субмикронными размерами. <...> Отмечено, что качество заполнения связано с отсутствием или наличием на поверхности затравочного слоя меди пленки оксида, характеризующейся гидрофобными свойствами. <...> Показано, что для однородного заполнения канавок медью в переходных окнах в межуровневых слоях диэлектриков при создании медной многоуровневой металлизации кремниевых ИС время межоперационного хранения пластин после осаждения затравочного слоя меди до заполнения канавок медью не должно превышать максимально допустимого (6 ч). <...> Ключевые слова: медная металлизация; угол смачивания; затравочный слой меди; электрохимическое осаждение. <...> С уменьшением размеров быстродействие логических элементов возрастает, а быстродействие межсоединений системы металлизации снижается из-за уменьшения поперечного сечения проводников межсоединений и соответствующего увеличения погонного сопротивления. <...> С уменьшением поперечного сечения проводников межсоединений возникают и другие проблемы: снижается электромиграционная стойкость проводников, значительно усложняются технологические приемы травления при создании рисунка проводников с воспроизводимыми размерами и др. <...> . В большинстве современных ИС для эффективной разводки требуется большое количество слоев межсоединений, что приводит к образованию многоуровневой системы металлизации [1–3]. <...> Необходимость в улучшении системы межсоединений обусловлена увеличением быстродействия устройств. <...> Потребность в снижении сопротивления проводниковых межсоединений и повышении их электромиграционной <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности

Похожие документы: