Исследование зависимости морфологии самоформирующихся нанокластеров GeSi/Si, полученных методом сублимационной молекулярно-лучевой эпитаксии в среде GeH[4], от условий роста
Методом атомно-силовой микроскопии (АСМ) на воздухе исследована зависимость параметров морфологии поверхностных нанокластеров GeSi/Si (001) (размеры, форма, поверхностная плотность, однородность по размерам и пр. ), выращенных методом сублимационной молекулярно-лучевой эпитаксии (СМЛЭ) в среде GeH[4], от параметров технологического процесса выращивания структур (температура подложки, парциальное давление GeH[4] в ростовой камере, время роста). Установлено, что закономерности трансформации морфологии кластеров с увеличением количества осажденного Ge отличаются от таковых для традиционной МЛЭ. Нанокластеры, выращенные в определенных условиях, характеризуются би- и тримодальным распределением по размерам. Определены условия роста, обеспечивающие получение однородных массивов кластеров с заданными геометрическими параметрами.
Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
В. Г. Шенгуров, С. П. Светлов, В. Ю. Чалков, С. А. Денисов
ИССЛЕДОВАНИЕ ЗАВИСИМОСТИ МОРФОЛОГИИ
САМОФОРМИРУЮЩИХСЯ НАНОКЛАСТЕРОВ GeSi/Si,
ПОЛУЧЕННЫХ МЕТОДОМ СУБЛИМАЦИОННОЙ
МОЛЕКУЛЯРНО-ЛУЧЕВОЙ ЭПИТАКСИИ В СРЕДЕ GeH4,
ОТ УСЛОВИЙ РОСТА <...> *
Методом атомно-силовой микроскопии (АСМ) на воздухе исследована
зависимость параметров морфологии поверхностных нанокластеров
GeSi/Si(001) (размеры, форма, поверхностная плотность, однородность по размерам
и пр.), выращенных методом сублимационной молекулярно-лучевой
эпитаксии (СМЛЭ) в среде GeH4, от параметров технологического процесса
выращивания структур (температура подложки, парциальное давление GeH4 в
ростовой камере, время роста). <...> Установлено, что закономерности трансформации
морфологии кластеров с увеличением количества осажденного Ge отличаются
от таковых для традиционной МЛЭ. <...> Нанокластеры, выращенные в определенных
условиях, характеризуются би- и тримодальным распределением
по размерам. <...> Определены условия роста, обеспечивающие получение однородных
массивов кластеров с заданными геометрическими параметрами. <...> Другое важное направление исследований – фотопроводимость
GeSi структур в области энергий световых квантов, меньших
ширины запрещенной зоны Si, связано с расширением спектрального диапазона
фотоприемников на основе Si в инфракрасную область [3]. <...> Обычно нанокластеры GeSi получают методом молекулярно-лучевой
эпитаксии (МЛЭ) [4]. <...> Менее широко используются методы газофазной эпитаксии
и МЛЭ с использованием металлоорганических источников [5]. <...> В
данной работе исследованы гетероструктуры с нанокластерами GeSi/Si(001),
выращенные методом сублимационной МЛЭ (СМЛЭ) в среде GeH4 [6]. <...> В
этом методе слои Si осаждаются из сублимационного источника, а для осаждения
Ge в ростовую камеру напускается GeH4. <...> Однако, если закономерности
роста нанокластеров GeSi/Si в процессе МЛЭ хорошо изучены [8], особенности
роста последних в процессе СМЛЭ в среде GeH4 изучены недоста*
71
Работа
выполнена при поддержке <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности
Похожие документы: