РУсскоязычный Архив Электронных СТатей периодических изданий
Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Физико-математические науки/2007/№ 1/
В наличии за
40 руб.
Купить
Облако ключевых слов*
* - вычисляется автоматически
Недавно смотрели:

Исследование зависимости морфологии самоформирующихся нанокластеров GeSi/Si, полученных методом сублимационной молекулярно-лучевой эпитаксии в среде GeH[4], от условий роста

Методом атомно-силовой микроскопии (АСМ) на воздухе исследована зависимость параметров морфологии поверхностных нанокластеров GeSi/Si (001) (размеры, форма, поверхностная плотность, однородность по размерам и пр. ), выращенных методом сублимационной молекулярно-лучевой эпитаксии (СМЛЭ) в среде GeH[4], от параметров технологического процесса выращивания структур (температура подложки, парциальное давление GeH[4] в ростовой камере, время роста). Установлено, что закономерности трансформации морфологии кластеров с увеличением количества осажденного Ge отличаются от таковых для традиционной МЛЭ. Нанокластеры, выращенные в определенных условиях, характеризуются би- и тримодальным распределением по размерам. Определены условия роста, обеспечивающие получение однородных массивов кластеров с заданными геометрическими параметрами.

Авторы
Тэги
Тематические рубрики
Предметные рубрики
В этом же номере:
Резюме по документу**
В. Г. Шенгуров, С. П. Светлов, В. Ю. Чалков, С. А. Денисов ИССЛЕДОВАНИЕ ЗАВИСИМОСТИ МОРФОЛОГИИ САМОФОРМИРУЮЩИХСЯ НАНОКЛАСТЕРОВ GeSi/Si, ПОЛУЧЕННЫХ МЕТОДОМ СУБЛИМАЦИОННОЙ МОЛЕКУЛЯРНО-ЛУЧЕВОЙ ЭПИТАКСИИ В СРЕДЕ GeH4, ОТ УСЛОВИЙ РОСТА <...> * Методом атомно-силовой микроскопии (АСМ) на воздухе исследована зависимость параметров морфологии поверхностных нанокластеров GeSi/Si(001) (размеры, форма, поверхностная плотность, однородность по размерам и пр.), выращенных методом сублимационной молекулярно-лучевой эпитаксии (СМЛЭ) в среде GeH4, от параметров технологического процесса выращивания структур (температура подложки, парциальное давление GeH4 в ростовой камере, время роста). <...> Установлено, что закономерности трансформации морфологии кластеров с увеличением количества осажденного Ge отличаются от таковых для традиционной МЛЭ. <...> Нанокластеры, выращенные в определенных условиях, характеризуются би- и тримодальным распределением по размерам. <...> Определены условия роста, обеспечивающие получение однородных массивов кластеров с заданными геометрическими параметрами. <...> Другое важное направление исследований – фотопроводимость GeSi структур в области энергий световых квантов, меньших ширины запрещенной зоны Si, связано с расширением спектрального диапазона фотоприемников на основе Si в инфракрасную область [3]. <...> Обычно нанокластеры GeSi получают методом молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ) [4]. <...> Менее широко используются методы газофазной эпитаксии и МЛЭ с использованием металлоорганических источников [5]. <...> В данной работе исследованы гетероструктуры с нанокластерами GeSi/Si(001), выращенные методом сублимационной МЛЭ (СМЛЭ) в среде GeH4 [6]. <...> В этом методе слои Si осаждаются из сублимационного источника, а для осаждения Ge в ростовую камеру напускается GeH4. <...> Однако, если закономерности роста нанокластеров GeSi/Si в процессе МЛЭ хорошо изучены [8], особенности роста последних в процессе СМЛЭ в среде GeH4 изучены недоста* 71 Работа выполнена при поддержке <...>
** - вычисляется автоматически, возможны погрешности

Похожие документы: